為了促進(jìn)顆粒測(cè)試技術(shù)的普及與繁榮，對(duì)如下幾個(gè)顆粒測(cè)試的基礎(chǔ)性問題取得共識(shí)是必要的。

　　1)顆粒測(cè)試概念的內(nèi)涵：顆粒測(cè)試應(yīng)該包含顆粒幾何形態(tài)測(cè)試、顆粒物理特性測(cè)試、顆�；瘜W(xué)特性測(cè)試幾個(gè)方面.由于物理特性和化學(xué)特性測(cè)試技術(shù)與其他物質(zhì)形態(tài)的物理化學(xué)特性測(cè)試差別不大，因此顆粒特性測(cè)試往往專指幾何形態(tài)測(cè)試，主要包括顆粒大小及其分布測(cè)試，顆粒形狀參數(shù)測(cè)試，顆粒比表面測(cè)試，孔及其分布測(cè)試.

　　2) 顆粒測(cè)試的理論基礎(chǔ)應(yīng)該是顆粒形狀與顆粒大小的表征.由于顆粒形狀的復(fù)雜性，因此顆粒的表征是一個(gè)很困難的工作，很多學(xué)者為此付出了長(zhǎng)期艱苦的工作，但是至今未見到一種表征方法為大多數(shù)行業(yè)所認(rèn)可.但是有一點(diǎn)已經(jīng)取得共識(shí)的是用等效粒徑表示顆粒大小的概念已經(jīng)為大眾所接受：因此不同的原理的測(cè)試方法必然獲得不同的等效粒徑.只有球形顆粒，才能在不同的儀器上獲得相同的測(cè)試結(jié)果.這也是標(biāo)準(zhǔn)顆粒必須是球形的原因.

　　3)不同測(cè)試方法之間的比較問題顯然與顆粒形狀有關(guān)，如果不限定顆粒形狀，泛泛比較兩種不同原理儀器的測(cè)試結(jié)果誰是誰非沒有意義.但是，對(duì)于同一種顆粒，用不同的原理測(cè)試，是有規(guī)律可循的.有的公司為此提供了專用數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換軟件，受到了歡迎，需要注意的是，這種轉(zhuǎn)換僅適用于同一種物質(zhì)、用相同的加工方法制備的形狀類似的顆粒體系.

　　推論：既然顆粒大小測(cè)試與顆粒形狀有關(guān)，粒度儀利用不同原理測(cè)試同種顆粒產(chǎn)生的數(shù)據(jù)差異顯然可以提供顆粒形狀信息.利用此原理可能會(huì)產(chǎn)生一種實(shí)用的顆粒形狀測(cè)試方法和相關(guān)的儀器設(shè)備.

　　4)統(tǒng)一使用顆粒大小分級(jí)習(xí)慣術(shù)語：

　　納米顆粒1-100nm

　　亞微米顆粒0.1-1um

　　微粒、微粉1-100um

　　細(xì)粒、細(xì)粉100-1000um

　　粗�！�1mm

　　5)描述顆粒形狀時(shí)至少應(yīng)提供的形狀參數(shù)：球形度、長(zhǎng)徑比(長(zhǎng)寬比)

　　6)用目數(shù)描述顆粒大小時(shí)應(yīng)同時(shí)注明通過此篩孔的百分含量.如95%通過325目等等.

　　7)描述顆粒粒度分布時(shí)應(yīng)同時(shí)注明分布類型和測(cè)試原理.如：體積分布、重量分布、個(gè)數(shù)分布;激光衍射/散射、沉降法、電阻法、篩分法、圖像分析、動(dòng)態(tài)光散射、透氣法等等.以上幾個(gè)問題如果能取得共識(shí)，技術(shù)交流時(shí)一定會(huì)方便很多.